結(jié)構(gòu)分析室簡介：偏光顯微鏡、原子力顯微鏡、微米壓痕儀等，通過這些設(shè)備，用于觀測樣品表面微區(qū)(納米及亞微米尺度)的三維形貌；可以在高分辨成像的同時(shí)對(duì)樣品表面物理化學(xué)特性進(jìn)行研究，包括表面組分區(qū)別、表面電勢(shì)、磁場力、靜電力以及壓電響應(yīng)、可測量薄膜、涂層和塊體材料的硬度、楊氏模量、張力、應(yīng)力（馮米塞斯應(yīng)力）和接觸強(qiáng)度、剛度、可用來研究不透明、各向異性材料的表面狀態(tài)。
